劣化照射が可能な広エネルギー帯域二次電子放出測定システムの開発

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2015/07/01

タイトル(英語): Development of Secondary Electron Emission Measurement System for Wide Energy Range with Aging

著者名: 長門　拡（東京都市大学 計測電機制御研究室），渋谷　一晃（東京都市大学 計測電機制御研究室），三宅　弘晃（東京都市大学 計測電機制御研究室），田中　康寛（東京都市大学 計測電機制御研究室），大平　正道（宇宙航空研究開発機構），奥村　哲平（宇宙航空研究開発機構），川北　史朗（宇宙航空研究開発機構），高橋　真人（宇宙航空研究開発機構）

著者名(英語): Hiromu Nagato (Tokyo City University), Kazuaki Shibuya (Tokyo City University), Hiroaki Miyake (Tokyo City University), Yasuhiro Tanaka (Tokyo City University), Masamichi Ohira (JAXA), Teppei Okumura (JAXA), Shiro Kawakita (JAXA), Masato Takahashi (JAXA)

キーワード: 二次電子放出，宇宙機帯電，電子線　　secondary electron emission，spacecraft charging，electron beam

要約(英語): We have developed the secondary electron emission (SEE) with wide energy range for spacecraft thermal control materials. SEE yield measurement is very important for analyzing charge accumulation on the spacecraft surface. Therefore, we are developing the measurement system without the deceleration voltage and enable to obtain the characteristics of the SEE yield on those materials irradiated by an electron beam with energy of 200 eV to 10 keV. Furthermore, SEE yield on the aging materials is also important for determination of end of life of spacecraft. 50 keV electron gun for aging was attached on the developed chamber, we can create the seamless system form the aging to SEE measurement.

本誌: 電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.135 No.7 （2015） 特集：電気機器の低損失・高効率化に向けた電力用磁性材料の評価活用技術

本誌掲載ページ: 433-434 p

原稿種別: 研究開発レター／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/135/7/135_433/_article/-char/ja/