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低インピーダンスの精密測定のための改良型電流比較ブリッジ回路の誤差解析

低インピーダンスの精密測定のための改良型電流比較ブリッジ回路の誤差解析

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カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2016/04/01

タイトル(英語): Error Analysis of Improved Current-bridge Method for Accurate Low-impedance Measurement

著者名: 昆 盛太郎(国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター 物理計測標準研究部門 応用電気標準研究グループ),山田 達司(国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター 物理計測標準研究部門 応用電気標準研究グループ)

著者名(英語): Seitaro Kon (Applied Electrical Standards Group, Research Institute for Physical Measurement, National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)), Tatsuji Yamada (Applied Electrical Standards Group, Research Institute for Physical Measurement, National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST))

キーワード: 低インピーダンス,計測,シャント抵抗,電流,周波数特性,標準  low-impedance,measurement,shunt resistor,current,frequency characteristics,measurement standard

要約(英語): The improved current-bridge method and its mathematical model are proposed for accurate low-impedance measurement. To realize the accurate measurements of shunt resistors smaller than 1 mΩ, the expansion of current ratio of a current transformer and a current comparator, the use of low-value resistance for reference impedance, and the development of a buffer amplifier which have flat load characteristics are required. The improved current bridge-method has the possibility for accurate measurement of shunt resistors up to 10 μΩ.

本誌: 電気学会論文誌A(基礎・材料・共通部門誌) Vol.136 No.4 (2016) 特集:平成27年基礎・材料・共通部門大会

本誌掲載ページ: 157-163 p

原稿種別: 論文/日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/136/4/136_157/_article/-char/ja/

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