同軸コネクタ接触不良部におけるインダクタンス値の定量的評価

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2016/06/01

タイトル(英語): Quantitative Evaluation of Inductance at the Coaxial Connector Contact Failure Portion

著者名: 佐藤　友哉（東北大学大学院情報科学研究科），林　優一（東北学院大学工学部），水木　敬明（東北大学サイバーサイエンスセンター），曽根　秀昭（東北大学サイバーサイエンスセンター）

著者名(英語): Tomoya Sato (Graduate School of Information Sciences, Tohoku University), Yu-ichi Hayashi (Faculty of Engineering, Tohoku Gakuin University), Takaaki Mizuki (Cyberscience Center, Tohoku University), Hideaki Sone (Cyberscience Center, Tohoku University)

キーワード: 接触不良，電磁放射，同軸コネクタ，電磁界解析，インダクタンス　　contact failure，electromagnetic radiation，coaxial connector，electromagnetic field analysis，inductance

要約(英語): The intensity of unintended electromagnetic radiation caused by connector contact failure mainly depends on the increased inductance at the contact failure portion. Self-inductance caused from increased current path at the contact boundary surface has been considered the factor of increased inductance. However, investigation of mutual inductance due to the interaction among contact points is insufficient. In this paper, by using contact failure model, calculated current path length and increased inductance including mutual inductance are compared. The result shows that the more current path lengthens, the more mutual inductance increases. Mutual inductance should be considered when estimating contact failure.

本誌: 電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.136 No.6 （2016） 特集：広帯域電磁界の電子機器および通信に対する障害

本誌掲載ページ: 347-352 p

原稿種別: 論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/136/6/136_347/_article/-char/ja/