精密位相雑音測定におけるサンプリングクロックの影響

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2016/07/01

タイトル(英語): Influence of the Sampling Clock on the Precise Phase Noise Measurement

著者名: 平野　育（産業技術総合研究所），柳町　真也（産業技術総合研究所），池上　健（産業技術総合研究所），高見澤　昭文（産業技術総合研究所）

著者名(英語): Iku Hirano (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology), Shinya Yanagimachi (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology), Takeshi Ikegami (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology), Akifumi Takamizawa (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: 低オフセット周波数，スペクトル形状，位相雑音，離散フーリエ変換，水素メーザー　　low offset frequency，spectral line，phase noise，discrete fourier transformation，hydrogen maser

要約(英語): In the precise phase noise measurement, we studied the influence of the relation between the frequency of the measured signal and sampling frequency on the phase noise value. It is revealed that the error of the phase noise L(f) decreases with the increasing of the offset frequency in the L(f) characteristic.

本誌: 電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.136 No.7 （2016）

本誌掲載ページ: 455-457 p

原稿種別: 資料／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/136/7/136_455/_article/-char/ja/