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プリント回路技術を用いた2次元高精細磁気計測システムの開発

プリント回路技術を用いた2次元高精細磁気計測システムの開発

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カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2018/09/01

タイトル(英語): Development of High-resolution Two-dimensional Magnetic Field Measurement System by Use of Printed-circuit Technology

著者名: 秋光 萌(東京大学大学院新領域創成科学研究科),小野 靖(東京大学大学院新領域創成科学研究科),曹 慶紅(東京大学大学院新領域創成科学研究科),増木 亮太(東京大学大学院新領域創成科学研究科),田辺 博士(東京大学大学院新領域創成科学研究科)

著者名(英語): Moe Akimitsu (Graduate School of Frontier Science, The University of Tokyo), Yasushi Ono (Graduate School of Frontier Science, The University of Tokyo), Qinghong Cao (Graduate School of Frontier Science, The University of Tokyo), Ryota Masuki (Graduate Sc

キーワード: プリント回路技術,磁気プローブ列,高精細磁気計測,磁気リコネクション  printed-circuit technology,magnetic probe array,high-resolution magnetic field measurement,magnetic reconnection

要約(英語): We have developed new high-resolution magnetic probe arrays using the advanced printed-circuit technology and high-density coil circuit design with field-component compensation. They are equipped with 5mm×3mm magnetic pick-up coils for r, z, θ magnetic field components. Each coil is composed of two-sided coil patterns with circuit line width of 0.05mm. This new probe technique enables us to measure detailed 2D profiles of X-point magnetic field whose special resolution is as high as 5mm: an important key for laboratory experiments of magnetic reconnection.

本誌: 電気学会論文誌A(基礎・材料・共通部門誌) Vol.138 No.9 (2018)

本誌掲載ページ: 480-481 p

原稿種別: 研究開発レター/日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/138/9/138_480/_article/-char/ja/

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