マイクロギャップ電極デバイスを用いたシリカ/エポキシ界面の破壊経路の直接観察

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2020/02/01

タイトル(英語): Direct Observation of Dielectric Breakdown Path at Silica/Epoxy Interface with a Micro-gap Electrode Device

著者名: 三川　莉奈（早稲田大学理工学術院），大西　拓弥（早稲田大学理工学術院），高橋　滉平（早稲田大学理工学術院），富田　基裕（早稲田大学理工学術院），武良　光太郎（東芝三菱電機産業システム（株）），中村　隆央（東芝三菱電機産業システム（株）），吉満　哲夫（東芝三菱電機産業システム（株）），今井　隆浩（東芝インフラシステムズ（株）），渡邉　孝信（早稲田大学理工学術院）

著者名(英語): Rina Sankawa (Waseda University), Takuya Onishi (Waseda University), Kohei Takahashi (Waseda University), Motohiro Tomita (Waseda University), Kotaro Mura (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Takahiro Nakamura (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Tetsuo Yoshimitsu (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Takahiro Imai (Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation), Takanobu Watanabe (Waseda University)

キーワード: ナノコンポジット，シリカ，界面，電気トリー，絶縁破壊，SEM　　nano-composite，silica，interface，electrical treeing，dielectric breakdown，SEM

要約(英語): We develop a micro-gap electrode device on quartz substrate to investigate the dielectric breakdown resistance on constrained layer of silica/epoxy interface. After application of stress, the device is cut at the middle of the micro-gap by laser dicing to observe the cross-section, and the cross-section shows where the breakdown occurs in the vicinity of the silica/epoxy interface at sub-micron scale. These results give us a clue to understand the effect of nano-fillers on the dielectric breakdown of nano-composite materials.

本誌: 電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.140 No.2 （2020）　特集：放電研究の最新動向

本誌掲載ページ: 64-69 p

原稿種別: 論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/140/2/140_64/_article/-char/ja/