高エネルギー電子分布の時間発展計測のための軟X線ステレオ画像計測システムの開発
高エネルギー電子分布の時間発展計測のための軟X線ステレオ画像計測システムの開発
カテゴリ: 論文誌(論文単位)
グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門
発行日: 2021/10/01
タイトル(英語): Development of Soft X-ray Stereo Imaging System for Time-evolution Measurement of High-energy Electron Distribution
著者名: 竹田 慎次朗(東京大学工学系研究科),向 俊光(東京大学工学系研究科),蔡 雲漢(東京大学工学系研究科),田辺 博士(東京大学工学系研究科),小野 靖(東京大学工学系研究科)
著者名(英語): Shinjiro Takeda (Graduate School of Engineering, The University of Tokyo), Junguang Xiang (Graduate School of Engineering, The University of Tokyo), Yunhan Cai (Graduate School of Engineering, The University of Tokyo), Hiroshi Tanabe (Graduate School of E
キーワード: 軟X線,ステレオ画像計測,マイクロチャンネルプレート,磁気リコネクション,トモグラフィ soft X-ray,stereo imaging,microchannel plate,magnetic reconnection,tomography
要約(英語): We have developed a new stereo-type X-ray camera system that can measure two time-evolutions of 2D soft X-ray emissions with different viewpoints. This system composed of two microchannel plates (MCPs), a bifurcated optical fiber bundle, and a high-speed flaming camera, successfully detected downstream heating of electrons in magnetic reconnection and energy-dependent evolution of the high-energy electron distribution.
本誌掲載ページ: 604-605 p
原稿種別: 研究開発レター/日本語
電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/141/10/141_604/_article/-char/ja/
受取状況を読み込めませんでした
