RFテスタ用リフレクトメータのSiP化技術
RFテスタ用リフレクトメータのSiP化技術
カテゴリ: 論文誌(論文単位)
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門
発行日: 2013/03/01
タイトル(英語): RF-SiP Technology of Reflect-meter for RF Testers
著者名: 君島 正幸((株) アドバンテスト ATEユニット開発本部/宇都宮大学大学院工学研究科),中山 喜和((株) アドバンテスト ATEユニット開発本部),古神 義則(宇都宮大学大学院工学研究科)
著者名(英語): Masayuki Kimishima (ATE Unit Development Group, ADVANTEST CORPORATION/Graduate School of Engineering, Utsunomiya University), Yoshikazu Nakayama (ATE Unit Development Group, ADVANTEST CORPORATION), Yoshinori Kogami (Graduate School of Engineering, Utsunomiya University)
キーワード: RFテスタ,SIP,リフレクトメータ,ネットワークアナライザ,方向性結合器,アイソレーションアンプ RF tester,SIP,Reflect-meter,Network analyzer,Directional coupler,Isolation amplifier
要約(英語): Technologies of the small size reflect-meter constructed in form of RF functional systems in package (SiPs) for RF testers are described. As primary concerns, focusing on the directivity and dynamic range of the reflect-meter performance, we propose the construction and the core circuit topologies to realize a very small reflect-meter SiP that satisfies functions of the vector network analysis for RF testers. The reflect-meter features a very small size of less than 1/50 compared to our conventional hybrid form reflect-meter, and having good performance for RF testers.
本誌: 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) Vol.133 No.3 (2013) 特集Ⅰ:電磁波の技術と科学および信号処理 特集Ⅱ:電子・情報・システム分野の最先端技術
本誌掲載ページ: 450-463 p
原稿種別: 論文/日本語
電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/133/3/133_450/_article/-char/ja/
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