マイクロフォーカスX線源を用いた屈折コントラストイメージング

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門

発行日: 2016/10/01

タイトル(英語): The Refraction Contrast Imaging using Micro Focus X-ray Source

著者名: 丸田　義尚（独立行政法人国立高等専門学校機構新居浜工業高等専門学校），越智　麻友（独立行政法人国立高等専門学校機構新居浜工業高等専門学校），平野　雅嗣（独立行政法人国立高等専門学校機構新居浜工業高等専門学校），三井　正（独立行政法人国立高等専門学校機構新居浜工業高等専門学校）

著者名(英語): Yoshitaka Maruta (National Institute of Technology, Niihama College), Mayu Ochi (National Institute of Technology, Niihama College), Masatsugu Hirano (National Institute of Technology, Niihama College), Tadashi Mitsui (National Institute of Technology, Niihama College)

キーワード: マイクロフォーカスX線，屈折コントラストイメージング，非破壊検査　　micro focus X-ray，refraction contrast imaging，non-destructive inspection

要約(英語): X-ray imaging has been widely used for applications such as non-destructive inspection. This study aims at high-contrast imaging for low-absorption materials using refraction-contrast imaging with a high-coherence X-ray source. In this letter, we report the results of imaging experiments using seeds inside fruits via conventional imaging and refraction contrast imaging. Although a seed was difficult to be detected using the conventional method, it was clearly observed in the refraction contrast imaging. This letter describes the possibility of a non-destructive food inspection.

本誌: 電気学会論文誌C（電子・情報・システム部門誌） Vol.136 No.10 （2016） 特集：電気関係学会四国支部連合大会

本誌掲載ページ: 1422-1423 p

原稿種別: 研究開発レター／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/136/10/136_1422/_article/-char/ja/