5 MeV C60イオンを用いたペプチドの透過型二次イオン質量分析

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門

発行日: 2017/03/01

タイトル：5 MeV C₆₀⁺イオンを用いたペプチドの透過型二次イオン質量分析

タイトル(英語): Transmission Secondary Ion Mass Spectrometry of a Peptide Using 5 MeV C₆₀⁺Ions

著者名: 中嶋　薫（京都大学大学院・工学研究科マイクロエンジニアリング専攻）

著者名(英語): Kaoru Nakajima (Dept. of Micro Engineering, Kyoto University)

キーワード: 二次イオン質量分析法，C₆₀，ペプチド，ロイシンエンケファリン　　SIMS，C₆₀，peptide，leucine-enkephalin

要約(英語): Transmission secondary ion mass spectrometry (transmission SIMS) of thin films of leucine-enkephalin using MeV C₆₀⁺primary ions was performed to examine the advantage of the combination with detection of secondary ions emitted in the forward direction in efficient emission of the intact molecular ions. Leucine-enkephalin thin films deposited on self-supporting SiN membranes were bombarded with 5 MeV C₆₀ ions, and positive secondary ions emitted in the forward and backward directions were mass-analyzed. The yield of fragment ions emitted in the forward direction was remarkably reduced compared to the backward direction, while the yield of intact molecular ions was reduced to a minor extent depending on the thickness of the peptide film. This suggests a potential of forward emission geometry in transmission cluster ion SIMS for less-damage and sensitive analysis of biological materials.

本誌: 電気学会論文誌C（電子・情報・システム部門誌） Vol.137 No.3 （2017） 特集：量子ビームによるナノバイオサイエンス技術

本誌掲載ページ: 411-417 p

原稿種別: 論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/137/3/137_411/_article/-char/ja/