IoT時代のアナログ/ミクストシグナル回路テスト技術

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門

発行日: 2021/01/01

タイトル(英語): Testing Technologies for Analog/Mixed-Signal Circuits in IoT Era

著者名: 小林　春夫（群馬大学），桑名　杏奈（群馬大学），魏　江林（群馬大学），築地　伸和（群馬大学），趙　宇杰（群馬大学）

著者名(英語): Haruo Kobayashi (Gunma University), Anna Kuwana (Gunma University), Jianglin Wei (Gunma University), Nobukazu Tsukiji (Gunma University), Yujie Zhao (Gunma University)

キーワード: アナログ回路テスト技術，ミクストシグナル回路テスト技術，テスト容易化設計，組み込み自己テスト，テスト容易化チップ外回路　　analog circuit test，mixed-signal circuit test，design-for-test，built-in self-test，built-out self-test

要約(英語): This paper reviews production testing issues for analog and mixed-signal SoC in IoT era for analog circuit designers, and also introduces research examples including authors' group research results in this area. Notice that production testing and measurement/characterization for ICs are similar but different, and this paper introduces the former. For IoT systems and automotive applications, analog and mixed-signal circuit testing is very important to realize their reliability at low cost, and there are a lot of technology challenges. Their overview including future technology challenges is described.

本誌: 電気学会論文誌C（電子・情報・システム部門誌） Vol.141 No.1 （2021） 特集：電子回路関連技術

本誌掲載ページ: 2023/01/12 p

原稿種別: 解説論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/141/1/141_1/_article/-char/ja/