超解像による対応点探索の精度向上に関する基礎的検討
超解像による対応点探索の精度向上に関する基礎的検討
カテゴリ: 論文誌(論文単位)
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門
発行日: 2021/03/01
タイトル(英語): Fundamental Research about Identifying Accurate Corresponding Points using Image Super-Resolution
著者名: 橋本 智洋(東京大学),山本 茂広(神戸大学),橋本 岳(静岡大学)
著者名(英語): Tomohiro Hashimoto (The University of Tokyo), Shigehiro Yamamoto (Kobe University), Takeshi Hashimoto (Shizuoka University)
キーワード: 対応点探索,人工マーカー,距離計測,超解像,深層学習 corresponding points search,artificial markers,distance measurement,super-resolution,deep learning
要約(英語): Corresponding points search is an indispensable process of stereo measurement. In this research, we suggest a method to reduce corresponding point error using deep learning. We found that upscaling was effective for binary markers the size of which was from 20 to 180 pixels. Although the amount of error reduction changed depending on the shape, rotation angle and size of markers, the results showed that the error was always reduced. The effectiveness was confirmed in both computer simulation and practical measurement.
本誌: 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) Vol.141 No.3 (2021) 特集:スマートシステムと計測・制御技術 -超スマート社会に向けて-
本誌掲載ページ: 358-366 p
原稿種別: 論文/日本語
電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/141/3/141_358/_article/-char/ja/
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