超音波探傷におけるスパースモデリングを用いた隣接欠陥の検出

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門

発行日: 2021/09/01

タイトル(英語): Adjacent Defects Detection using a Sparse Modeling of Ultrasonic Testing System

著者名: 福本　慎一郎（和歌山大学大学院システム工学研究科），村田　頼信（和歌山大学システム工学部）

著者名(英語): Shinichiro Fukumoto (Graduate School of Systems Engineering, Wakayama University), Yorinobu Murata (Department of Systems Engineering, Wakayama University)

キーワード: スパースモデリング，デコンボリューション，交互方向乗数法，開口合成　　sparse modeling，deconvolution，alternating direction method of multipliers，aperture synthesis

要約(英語): When the distance between internal defects is short during ultrasonic flaw detection, each reflected wave may be observed as a composite wave in the observed waveform. In this paper, we confirmed that it is possible to separate the reflected waves from each defect by using sparse modeling for such synthetic waves. It was also found that the resolution can be improved by comparing the resolution with deconvolution, which is one of the existing signal processing methods.

本誌: 電気学会論文誌C（電子・情報・システム部門誌） Vol.141 No.9 （2021） 特集：知能メカトロニクス分野と連携する知覚情報技術

本誌掲載ページ: 948-955 p

原稿種別: 論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/141/9/141_948/_article/-char/ja/