CMOSイメージセンサの読み出し回路におけるスミア低減手法

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門

発行日: 2021/12/01

タイトル(英語): Design Methodology for Smear Suppression of Column Readout Circuit in CMOS Image Sensor

著者名: 前橋　雄（キヤノン（株）），岩田　公一郎（キヤノン（株）），小林　大祐（キヤノン（株）），有嶋　優（キヤノン（株）），加藤　智（キヤノン（株）），新谷　悟（キヤノン（株））

著者名(英語): Yu Maehashi (Canon Inc.), Koichiro Iwata (Canon Inc.), Daisuke Kobayashi (Canon Inc.), Yu Arishima (Canon Inc.), Satoshi Kato (Canon Inc.), Satoru Shingai (Canon Inc.)

キーワード: CMOSイメージセンサ，読み出し回路，スイッチングノイズ，クロストーク，キックバック　　CMOS image sensor，readout circuit，switching noise，crosstalk，kick back

要約(英語): The column readout circuit in CMOS image sensor is highly integrated analog circuit arranged for each column of pixels in general. Due to the degree of integration, crosstalk between columns is likely to occur, resulting in deterioration in image quality. However, the integration of circuit components is limited in column floor plan, so that countermeasures unique to high integration is required. In this paper, various causes of smear, which is a typical image noise, in the readout circuit and its countermeasures are discussed.

本誌: 電気学会論文誌C（電子・情報・システム部門誌） Vol.141 No.12 （2021） 特集Ⅰ：電気・電子・情報関係学会東海支部連合大会　特集Ⅱ：研究会優秀論文

本誌掲載ページ: 1296-1305 p

原稿種別: 論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/141/12/141_1296/_article/-char/ja/