商品情報にスキップ
1 1

1/fゆらぎと二次反応

1/fゆらぎと二次反応

通常価格 ¥770 JPY
通常価格 セール価格 ¥770 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門

発行日: 2014/01/01

タイトル(英語): 1/f Fluctuations due to Second-Order Reactions

著者名: 吉田 裕道((株)東京電子回路),平野 康之(東京都立産業技術研究センター),原本 欽朗((株)東京電子回路)

著者名(英語): Hiromichi Yoshida (Tokyo Electronic Circuits Inc.), Yasuyuki Hirano (Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute), Yoshiaki Haramoto (Tokyo Electronic Circuits Inc.)

キーワード: 1/fゆらぎ,1/f雑音,二次反応  1/f fluctuation,1/f noise,second-order reaction

要約(英語): This paper presents a new 1/f fluctuation model in which a 1/f power spectrum with a wide frequency range is obtained, without artificial assumptions such as a uniform distribution of traps in oxide layers. Second-order reactions produce transient waves inversely proportional to the elapsed time soon after they begin. The transient waves can be broken into square pulses, which are superposed at random. A 1/f power spectrum is then obtained regardless of the initial value and the rate constant of the reaction. The validity of the model is confirmed by numerical simulations, in which 1/f power spectra are observed over a wide frequency range compared with the sampling range.

本誌: 電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌) Vol.134 No.1 (2014)

本誌掲載ページ: 2023/07/12 p

原稿種別: 論文/日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejsmas/134/1/134_7/_article/-char/ja/

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する