高温域で安定な高ゲージ率を示すCr-Al-N薄膜ひずみセンサ
高温域で安定な高ゲージ率を示すCr-Al-N薄膜ひずみセンサ
カテゴリ: 論文誌(論文単位)
グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門
発行日: 2018/07/01
タイトル(英語): Stable High Gauge Factor of Cr-Al-N Thin Film Strain Sensor in High Temperature Range
著者名: 丹羽 英二(公益財団法人 電磁材料研究所)
著者名(英語): Eiji Niwa (Research Institute for Electromagnetic Materials)
キーワード: Cr-Al-N薄膜,ひずみセンサ,ゲージ率,高温,感度温度係数 Cr-Al-N thin film,strain sensor,gauge factor,high temperature,temperature coefficient of sensitivity
要約(英語): The author investigated gauge factors (Gf) of Cr-Al-N thin films in high temperature range. As a result, it was found that the thin film showed a uniform and high Gf of about 8 over the temperature range from -50℃ to around 350℃. It was considered that the films were able to be expected as high sensitive strain sensors to use in high temperature range.
本誌: 電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌) Vol.138 No.7 (2018) 特集:第34回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム受賞論文
本誌掲載ページ: 294-300 p
原稿種別: 論文/日本語
電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejsmas/138/7/138_294/_article/-char/ja/
受取状況を読み込めませんでした
