微分・位相幾何学的考え方を用いた電力ケーブル半導電層の抵抗率測定方法の理論 - 電磁界解析による検証 -

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: RM18010

グループ名: 【D】産業応用部門 回転機研究会

発行日: 2018/01/23

タイトル(英語): Measurement Method Theory of Resistivity of the Semi-conductive Layers for the Electric Power Cable Based on Differential Topological Theory - A Verification of the Theory by the Electromagnetic Analysis -

著者名: 渡辺 和夫(千葉大学),菅原 賢悟(近畿大学)

著者名(英語): Kazuo Watanabe(Chiba University),Kengo Sugahara(Kindai University)

キーワード: 高電圧電力ケーブル|半導電層|抵抗率|微分・位相幾何学|電磁界解析|High voltage electric power cable|Semi-conductive layer|Resistivity|Differential topological geometry|Electromagnetic analysis

要約(日本語): 高電圧電力ケーブル・機器の絶縁体の高圧導体側と接地導体側との界面は電界緩和のため薄肉の平滑半導電層が施される。この半導電層の抵抗率測定方法について、これまで微分・位相幾何学的考え方を用いた理論を展開してきた。今回はその理論を電磁界解析により検証する。

要約(英語): At the inner and outer interfaces of the insulation of high voltage electric power cables, thin and smooth semi-conductive layers are utilized for reduction of the electric stresses. The measurment method of resistivity of the semi-conductive layers, based on a differential topological theory, has been developed. In this report, the verification of the theory by the electromagnetic analysis is presented.

原稿種別: 日本語

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