等角写像を用いたCVケーブル半導電層の抵抗率測定法の理論 ー長尺ケーブルコア上の測定電極配置と電磁界解析による検証ー

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: RM19019

グループ名: 【D】産業応用部門 回転機研究会

発行日: 2019/03/06

タイトル(英語): Measurement Method Theory of Resistivity of the Semi-conductive Layers for XLPE Cables Based on Conformal Mapping Theory-Arrangements of Measurement Electrodes on Long Cable Core and their Verification by the Electromagnetic Analysis-

著者名: 渡辺 和夫(千葉大学),菅原 賢悟(近畿大学)

著者名(英語): Kazuo Watanabe(Chiba University),Kengo Sugahara(Kindai University)

キーワード: ＣＶケーブル|半導電層|抵抗率|測定法|等角写像|電磁界解析|Cross-linked polyethylene cable|Semi-conductive layer|Resistivity|Measurement method|Conformal mapping|Electromagnetic analysis

要約(日本語): 高電圧架橋ポリエチレン絶縁ケーブル（CVケーブル）の架橋ポリエチレン絶縁体の高圧導体側と接地導体側との界面は電界緩和のため薄肉の平滑半導電層が施される。この半導電層の抵抗率測定方法について、これまで長尺ケーブルの場合、ケーブル端部に測定電極を取り付ける方法を報告してきた。本報告では、この端部を利用できない場合の測定電極の最適配置を等角写像法を用いて検討し、その結果を有限要素法による解析で検証した。

要約(英語): At the inner and outer interfaces of the insulation of high voltage electric power cables, thin and smooth semi-conductive layers are utilized for reduction of the electric stresses. New measuring methods of electric resistivity for the semi-conductive layer have been proposed for a long cable. In this report, the verification by the electromagnetic analysis is presented.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,723 Kバイト