真空中におけるCuCr接点のCr含有量が遮断・絶縁性能に及ぼす影響に関する検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SA12069

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 静止器研究会

発行日: 2012/06/26

タイトル(英語): Influence on Breakdown and Interruption Performance of CuCr Contact in Vacuum

著者名: 佐藤 純一(東芝),塩入 哲(東芝),丹羽 芳充(東芝),浅利 直紀(東芝),宮里 健一(東芝),捧 浩資(東芝),栗山 透(東芝),本間 三孝(東芝)

著者名(英語): Sato Junichi(Toshiba corporation),Shioiri Testu(Toshiba corporation),Niwa Yoshimitsu(Toshiba corporation),Asari Naoki(Toshiba corporation),Miyazato Kenichi(Toshiba corporation),Sasage Kosuke(Toshiba corporation),Kuriyama Toru(Toshiba corporation),Homma Mitsutaka(Toshiba corporation)

キーワード: 真空バルブ|ＣｕＣｒ接点|真空遮断器|Ｃｒ含有量|Vacuum Interrupter|CuCr Contact|Vacuum Circuit Breaker|Cr Content

要約(日本語): 本論文は、真空バルブに適用されるCuCr接点のCr含有量が、遮断器に必要な性能である耐電圧性能、コンデンサ開閉性能、遮断性能に及ぼす影響について明らかにしたものである。Cr含有量が異なるCuCr接点で、耐電圧試験、遮断試験、突入電流源、電流源、電圧源の合成法によるコンデンサ開閉試験を実施し、Cr含有量の異なる接点における電界放射電流の差、接点表面状態の違いにより、Cr含有量の影響を検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 810 Kバイト