HTS薄膜内遮蔽電流密度シミュレーション：非接触jC測定法によるクラック検出可能性

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SA14018

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 静止器研究会

発行日: 2014/01/24

タイトル(英語): Simulation of shielding current density in HTS thin film: detectability of crack by contactlessly jC-measurement methods

著者名: 高山 彰優(山形大学),神谷 淳(山形大学)

著者名(英語): Takayama Teruou(Yamagata University),Kamitani Atsushi(Yamagata University)

キーワード: 高温超伝導体|臨界電流密度|誘導法|有限要素法|クラック検出|数値シミュレーション|High-temperature superconductors|Critical current density|Inductive method|Finite element method|Crack detection|Numerical simulation

要約(日本語): 本研究の目的は，クラックを含む高温超伝導薄膜内の遮蔽電流密度解析を行う数値計算法を開発することである．さらに，同法を用いて，臨界電流密度の非接触測定法である誘導法を数値的に再現し，同法の欠陥検出の可能性を調べる．その結果，クラックが薄膜の縁近傍にある場合，クラック検出が困難になることが明らかになった．

要約(英語): The inductive method for measuring the critical current density in a high-temperature superconducting (HTS) film has been reproduced numerically. To this end, a numerical code has been developed for analyzing the time evolution of a shielding current density in the HTS film containing a crack. The results of computations show that the accuracy of the inductive method is degraded due to the crack or the film edge. This result means that the inductive method can be applied to the crack detection. However, the crack located near the film edge cannot be detected because the crack is treated the same as the film edge.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 964 Kバイト