パルス電流や電圧変動によるSHコンデンサ素子の劣化現象

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SA18087

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 静止器研究会

発行日: 2018/12/14

タイトル(英語): Deterioration Phenomena of SH type Capacitor Element caused by Pulse Current and Voltage Fluctuation

著者名: 前畑 安志(指月電機製作所),桑原 一樹(指月電機製作所),中坂 翔(指月電機製作所),牧添 浩明(指月電機製作所)

著者名(英語): Yasushi Maehata(Shizuki Electric Co.,Inc.),Kazuki Kuwahara(Shizuki Electric Co.,Inc.),Sho Nakasaka(Shizuki Electric Co.,Inc.),Hiroaki Makizoe(Shizuki Electric Co.,Inc.)

キーワード: ＳＨコンデンサ素子|メタリコン電極の接合強度|電圧変動|コロージョン|SH type capacitor elememt|Joint strength of metallikon electrode|Voltage fluctuation|Corrosion

要約(日本語): 近年のインバータの普及に伴い，コンデンサも求められる性能が高くなっており，特に信頼性が求められる分野では，フィルムコンデンサ，とりわけSHタイプが採用されることが多い。本稿では，パルス電流や繰り返し充放電による電圧変動によって生じるSHコンデンサ素子の劣化現象と当社が実施している検証方法について，その考え方及び実際に検証した結果の一例を紹介する。

要約(英語): Higher performance has been required for capacitors embedded into inverters, and especially for high reliability applications, SH type film capacitors are often adopted. This paper shows consideration on deterioration phenomena of SH type capacitor elements caused by pulse current and voltage fluctuation due to polarity reversals and deterioration evaluation method.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,122 Kバイト