Comparisons of FRF Identification Methods Suitable for Linear Model-Based Feedforward Control of Galvano Scanner

カテゴリ: 国際会議

グループ名: SAMCON2022

発行日: 2022/03/07

著者名(英語): Asuka Ogusu (Nagoya Institute of Technology, Japan), Yoshihiro Maeda (Nagoya Institute of Technology, Japan), Makoto Iwasaki (Nagoya Institute of Technology, Japan)

PDFファイルサイズ: 2,782 Kバイト