Admittance-Based Bilateral Control with Micro Reaction Force Estimation by Optical Tweezer

カテゴリ: 国際会議

グループ名: SAMCON2025

発行日: 2024/03/19

著者名(英語): Moyu Otsuka and Saki Kozu (Keio University, Japan); Koji Niwa (Graduate School of Keio University, Japan); Kazunobu Hashikawa (Nagoya University, Japan); Takahiro Nozaki (Keio University, Japan)

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