光電圧プローブを用いたロボットの誤動作解析
光電圧プローブを用いたロボットの誤動作解析
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: SMF20010
グループ名: 【D】産業応用部門 スマートファシリティ研究会
発行日: 2020/01/17
タイトル(英語): Analysis of Malfunction of Robot by ESD using Optical Voltage Probe
著者名: 大津 孝佳(沼津工業高等専門学校),永尾 優磨(沼津工業高等専門学校),大沢 隆二(精工技研株式会社)
著者名(英語): Takayoshi Ohtsu(National Institute of Technology, Numazu College),Yuma Nagao(National Institute of Technology, Numazu College),Ryuji Osawa(SEIKOH GIKEN Co., Ltd)
キーワード: 静電気放電|光電圧プローブ|誤動作|ロボット|ESD|Optical voltage probe|Malfunction|Robot
要約(日本語): 電子デバイスの高性能化・高密度化に伴い、静電気耐力が低下しており、その対策が必要とされている。静電気破壊による重要な情報の損失や、誤動作による安全の欠如など、電子機器へ信頼性の要求はより一層高まってきている。そこで、本研究では5V以下の電圧に於いても高精度で測定可能な光電圧プローブをロボットの制御基板に取り付け、静電気印加による誤動作について測定することにより、誤動作のメカニズムの解明を行った。
要約(英語): In this study, we used an optical voltage probe that can measure with high accuracy even at voltages below 5 [V]. The optical voltage probe was attached to the robot's control board, and the malfunction due to the application of Electro-static discharge was observed to clarify the mechanism of malfunction.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,213 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
