パワー半導体を用いたガス吹付けアークの減衰過程および擬似回復電圧印加試験

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SP14014

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 開閉保護研究会

発行日: 2014/06/09

タイトル(英語): A Fundamental Investigation on a Decaying Gas-Blast Arcs in a Nozzle using Power Semiconductors.

著者名: 田中 康規(金沢大学),中野 智之(金沢大学),石島 達夫(金沢大学),上杉 喜彦(金沢大学),清水 陽大(九州大学),富田 健太郎(九州大学),内野 喜一郎(九州大学),鈴木 克巳(東京電機大学),飯島 崇文(株式会社東芝),新海 健(株式会社東芝)

著者名(英語): Yasunori Tanaka(Kanazawa University),Nakano Tomoyuki(Kanazawa University),Ishijima Tatsuo(Kanazawa University),Uesugi Yoshihiko(Kanazawa University),Shimizu Takahiro(Kyushu University),Tomita Kentaro(Kyushu University),Uchino Kiichiro(Kyushu University),Suzuki Katsumi(Tokyo Denki University),Iijima Takanori(Toshiba),Shinkai Takeshi(Toshiba)

キーワード: アーク|遮断器|開閉器|arc|circuit breaker|interrupter

要約(日本語): ノズル空間内のガス吹付けアーク消滅過程を詳細に解明することは，ガス遮断器のコンパクト化，高性能化にとって重要である。今回，アーク減衰過程の基礎検討のため，パワー半導体を利用して意図的にフリーリカバリ減衰過程を作成し，さらにその後電極間に擬似的に回復電圧を印加する手法を考案した。電圧印加タイミングを，パワー半導体で調整し，再発弧の有無を調査することで導電性の減衰速さを基礎的に検討できた。

要約(英語): Gas blast arcs in decaying phase in a confined nozzle has been investigated by controlling high power semiconductors. A fundamental investigation for decaying arcs is greatly important for circuit breaker design. Decaying process of electrical conductivity in arcs under free recovery condition was also studied by applying recovery voltage.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,808 Kバイト