Heイオン照射を用いたPiNダイオードにおけるダイナミックアバランシェ現象の解析

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SPC06136

グループ名: 【D】産業応用部門　半導体電力変換研究会

発行日: 2006/10/24

タイトル(英語): Analysis of dynamic avalanche phenomenon of PiN diode using He ion irradiation

著者名: 三角 忠司(トヨタ自動車),中垣 真治(トヨタ自動車),西脇 克彦(トヨタ自動車),山口 正一(東芝セミコンダクター社),平原 文雄(東芝セミコンダクター社)

著者名(英語): Tadashi Misumi(Toyota Motor Corporation),Shinji Nakagaki(Toyota Motor Corporation),Katsuhiko Nishiwaki(Toyota Motor Corporation),Masakazu Yamaguchi(Semiconductor Company,Toshiba Corporation),Fumio Hirahara(Semiconductor Company,Toshiba Corporation)

キーワード: ハイブリッド自動車|PiNダイオード|Heイオン照射|ダイナミックアバランシェ現象|正孔トラップ準位|Hybrid Vehicle|PiN diode|He ion irradiation|dynamic avalanche phenomenon|hole trap level

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 794 Kバイト