静特性と動特性の統合評価に基づくパラメータ抽出手法 ―pinダイオードモデルへの応用―

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SPC10015

グループ名: 【D】産業応用部門 半導体電力変換研究会

発行日: 2010/01/29

タイトル(英語): A Parameter-Extraction Procedure Based on Integrated Evaluation of Static and Dynamic Characteristics: Its Application to a pin Diode Model

著者名: 遠山 喬(東京工業大学),冨永 真志(東京工業大学),漆畑 廣明(東京工業大学),藤田 英明(東京工業大学),赤木 泰文(東京工業大学),木ノ内 伸一(三菱電機),大井 健史(三菱電機)

著者名(英語): Toyama Takashi(Tokyo Institute of Technology),Tominaga Shinji(Tokyo Institute of Technology),Urushibata Hiroaki(Tokyo Institute of Technology),Fujita Hideaki(Tokyo Institute of Technology),Akagi Hirofumi(Tokyo Institute of Technology),Kinouchi Shinichi(Mitsubishi Electric Corporation),Oi Takeshi(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: パラメータ抽出|ｐｉｎダイオード|パワー半導体モデリング|parameter extraction|pin diodes|power semiconductor modeling

要約(日本語): パワー半導体モデリングではパラメータ抽出が重要である。実測とシミュレーションの波形誤差を評価関数とした直接探索法は汎用的手法であるが，モデルの複雑化に伴い抽出時間が増加する。本論文では，計算負荷の比較的小さい静特性シミュレーションを利用した効率的なパラメータ抽出手法を提案する。本手法をpinダイオードモデルに適用した場合，より短時間で静特性と動特性を満足するパラメータが抽出可能であることを示す。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 6,532 Kバイト