電力変換回路近傍の放射電磁界の測定と制御回路への影響評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SPC10042

グループ名: 【D】産業応用部門 半導体電力変換研究会

発行日: 2010/03/04

タイトル(英語): Measurement of Near Electromagnetic Field around Power Electronics Circuits and Influences to Control Circuits

著者名: 有賀 善之介(首都大学東京),和田 圭二(首都大学東京)

著者名(英語): Ariga Zen-nosuke(Tokyo Metropolitan University),Wada Keiji(Tokyo Metropolitan University)

キーワード: ｄｉ／ｄｔ|ｄｖ／ｄｔ|パルス電流|パルス電圧|近傍電磁界|電磁界誘導ノイズ|di/dt|dv/dt|pulse voltage|pulse current|near electromagnetic field|electromagnetic induction noise

要約(日本語): 小型・高効率の電力変換回路を実現するために，スイッチング技術の研究が盛んに行われている。高速スイッチングにより損失の低減・スイッチングの高速化が可能であるが，その一方で高dv/dt・di/dtによる機器自体の誤動作を招く伝導性・放射性ノイズの増大が課題である。さらに，高密度回路設計では近接により生じる静電容量がノイズ伝達の経路となる。本研究ではこれを近傍放射電磁界による電磁界誘導ノイズとし，高密度化を実現する上で考慮しなければいけない近傍電磁界と制御回路へのノイズ影響評価を行う。

要約(英語): Many studies for switching technology has recently been discussed for realizing high power density circuits or smallsize converters. High speed switching can reduce a loss and make a high speed operating possible. On the otherhands, high dv=dt and di=dt radiate conduction or electromagnetic field noise which cause a malfunction of converteritself. Moreover, high density circuit’s design makes a noise path of capacitive couplings by the nearness of thedistance between control circuits and power circuits. In this paper, the noise caused by capacitive couplings is calledas “electrostatic induction noise”, and near electromagnetic field is measured around power electronics circuits andinfluences to control circuits are evaluated.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,828 Kバイト