鉄道車両用パワー半導体モジュールの劣化評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SPC13154,VT13037,HCA13059

グループ名: 【D】産業応用部門 半導体電力変換/【D】産業応用部門 自動車/【D】産業応用部門 家電・民生合同研究会

発行日: 2013/12/19

タイトル(英語): Degradation of High-Voltage / High-Current Power Semiconductor Modules for Trains

著者名: 福田 典子(鉄道総合技術研究所)

著者名(英語): Fukuda Tenko(Railway Technical Research Institute)

キーワード: ＩＧＢＴ|熱抵抗特性|電気的特性|劣化|IGBT|Maintenance|Device characterisation|Degradation

要約(日本語): 駆動用インバータ装置などに使用されているパワー半導体の不具合は，車両の運行に影響を及ぼす場合もあり，劣化評価の重要性が高まっている。IGBTのように複数材料から構成される場合は，電気的特性に加えて，熱抵抗特性も重要な評価項目の1つであるが，精度よく熱抵抗を算出することが困難で，規格値との比較ができないことが課題であった。今回，課題であった熱抵抗を実験的に求め，2台のIGBTの劣化評価を，IEC60747-9に準拠し試みた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,182 Kバイト