3.3-kV Si-IGBTモジュールの連続スイッチング試験システムと損失評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SPC17042,MD17042

グループ名: 【D】産業応用部門 半導体電力変換/【D】産業応用部門 モータドライブ合同研究会

発行日: 2017/01/27

タイトル(英語): A Test System for Continuous Switching Operation of 3.3-kV Si-IGBTs, and Power-Loss Evaluation

著者名: 三井 陽平(東京工業大学),生出 珠之助(東京工業大学),萩原 誠(東京工業大学),赤木 泰文(東京工業大学),市川 耕作(東京工業大学)

著者名(英語): Yohei Mitsui(Tokyo Institute of Technology),Tamanosuke Oide(Tokyo Institute of Technology),Makoto Hagiwara(Tokyo Institute of Technology),Hirofumi Akagi(Tokyo Institute of Technology),Kosaku Ichikawa(Tokyo Institute of Technology)

キーワード: ３．３－ｋＶ　ＩＧＢＴモジュール|単相インバータ|連続運転|損失評価|3.3-kV IGBT module|single-phase inverter|continuous operation|loss evaluation

要約(日本語): 本論文では,高圧かつ大電流のパワーモジュールの連続運転試験を報告する。3.3-kV 400-A Si-IGBTモジュールを用いて単相インバータ回路を構成し、直流電圧2 kV, 出力電流200 Arms, 連続70時間のスイッチング試験を実験室レベルで可能であることを実証した。また、パワーデバイスの冷却水の温度上昇を用いた方法、パワーアナライザを用いた方法で得られた損失測定結果を比較し、損失評価方法の妥当性を検討した。

要約(英語): This paper describes long-term continuous operation test of power module and investigation of methods of loss evaluation on module. Experimental results by a Single-phase inverter with 3.3-kV Si-IGBT module verify that it is able to test power module under 2 kV and 200 Arms for 70 hours in total at a laboratory level.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,252 Kバイト