プロッタを利用したディスクリートパワーデバイスの自動測定装置

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SPC17103

グループ名: 【D】産業応用部門 半導体電力変換研究会

発行日: 2017/06/05

タイトル(英語): A Plotter-Based Automatic Measurement System for Multiple Discrete Power Devices

著者名: ドーファン ベンジャミン(京都大学),大石 一輝(京都大学),新谷 道広(京都大学),廣本 正之(京都大学),佐藤 高史(京都大学)

著者名(英語): Benjamin Dauphin(Kyoto University),Kazuki Oishi(Kyoto University),Michihiro Shintani(Kyoto University),Masayuki Hiromoto(Kyoto University),Takashi Sato(Kyoto University)

キーワード: ディスクリートデバイス　|デバイス特性|測定システム|電流特性|容量特性|Discrete device|Device characteristics|Measurement system |Current characteristics|Capacitance characteristics

要約(日本語): ソケットを備えるカーブトレーサを用いて，多数のディスクリートパワーデバイスを測定するには，ソケットからデバイスを抜き差しする必要があり膨大な労力を要する．そこで，本稿では，ロボットアームを用いてパワーデバイスとカーブトレーサを自動接続可能な測定環境を提案する．提案環境により，多数のパワーデバイスの電流特性およびダイオード特性を容易に測定可能となる．SiCパワーMOSFETの特性を測定し，ソケットにより測定した場合と比べて測定精度が同等であることを示す．

要約(英語): A measurement system is proposed for measuring I-V, C-V and diode characteristics of multiple discrete power devices. Our system sequentially measures arranged power devices using a robot arm. We demonstrate that the system achieves comparable accuracy and precision to measurements obtained using the socket.

原稿種別: 英語

PDFファイルサイズ: 2,118 Kバイト