パワー半導体の予知保全を実現する特性モニタリングシステム

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: SPC20150,HCA20043,VT20039

グループ名: 【D】産業応用部門 半導体電力変換/【D】産業応用部門 家電・民生/【D】産業応用部門 自動車合同研究会

発行日: 2020/09/01

タイトル(英語): Characteristic monitoring system for predictive maintenance of power semiconductors

著者名: 山口 治之(東芝三菱電機産業システム),椋木 誠(東芝三菱電機産業システム),大村 一郎(九州工業大学),附田 正則(九州工業大学),菅 理(九州工業大学),渡辺 和葉(九州工業大学)

著者名(英語): Haruyuki Yamaguchi(TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION),Makoto Mukunoki(TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION),Ichiro Omura(Kyushu Institute of Technology),Masanori Tsukuda(Kyushu Institute of Technology),Li Gua

キーワード: パワー半導体|インバータ装置|モニタリング|予知保全|高耐圧差動回路|導通特性|Power semiconductor|Inverter|Monitoring|Predictive maintenance|High-voltage differential circuit|Conduction characteristic

要約(日本語): IGBTやSic-MOSFETといったパワー半導体の特性をモニタリングするシステムを開発した。開発したモニタリングシステムをインバータ装置に組み込み、装置稼働中のパワー半導体特性をモニタリングできることを確認した。

要約(英語): We have developed the system for monitoring the characteristic of power semiconductors such as IGBTs and SiC-MOSFETs. We have demonstrated that the developed monitoring system is able to monitor the characteristic of power semiconductor during operation commercial inverter.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,359 Kバイト