新幹線高架橋での電磁誘導測定試験と解析

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: TER07026

グループ名: 【D】産業応用部門　交通・電気鉄道研究会

発行日: 2007/07/26

タイトル(英語): Measurement Examination and Analysis at Electromagnetic Screening Effect of Viaduct

著者名: 孫 佳男(早稲田大学),小川 知行(早稲田大学),若尾 真治(早稲田大学),奥谷 民雄(鉄道・運輸機構),中村 信幸(鉄道・運輸機構),寺田 夏樹(鉄道総合技術研究所),館裕 (電気技術開発),稲田 聡(電気技術開発)

著者名(英語): Yoshio Son(Waseda University),Tomoyuki Ogawa(Waseda University),Shinji Wakao(Waseda University),Tamio Okutani(JRTT),Nobuyuki Nakamura(JRTT),Natsuki Terada(RTRI),Yutaka Tate(JEC),Satoshi Inada(JEC)

キーワード: ATき電|誘導障害|多線条回路網|誘導遮蔽効果|誘導予測計算|高架橋|AT feeding system|Electromagnetic induction interference|Multiple conductor circuit|Electromagnetic screening effect|Electromagnetic induction prediction calculation|Viaduct

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 775 Kバイト