エリート戦略および並列GAを用いた境界要素法クラック同定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-006

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Non-Destractive Testing by Boundary Element Method using Elitism and Paralled GA

著者名: 武本 秀行(関西大学),松浦 淳(関西大学),安田 陽(関西大学),原 武久(関西大学)

著者名(英語): Hideyuki Takemoto(Kansai University),Jun Matsuura(Kansai University),Yoh Yasuda(Kansai University),Takehisa Hara(Kansai University)

キーワード: 遺伝的アルゴリズム|エリート戦略|並列 GA|移住|直流ポテンシャル法|境界要素法

要約(日本語): 造物中に存在するクラックを非破壊検査で検出するために、最適化手法の一種である遺伝的アルゴリズム（以下 GA）が検討されている。GAは大域的に探索するアルゴリズムであることから、局所探索力が弱いということが挙げられる。本研究では計算時間の短縮のため、ソルバに境界要素法（以下BEM）を採用した。 また、GAには収束速度の高速化を考慮して、エリート戦略および並列化モデルを用いてクラックの同定を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 93 Kバイト