1
/
の
1
半導体レーザを用いた三角測量法による三次元計測に関する研究
半導体レーザを用いた三角測量法による三次元計測に関する研究
通常価格
¥440 JPY
通常価格
セール価格
¥440 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-056
グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集
発行日: 2000/03/21
タイトル(英語): Study on three-dimensional measurement by triangulation using semiconductor laser
著者名: 高井 浩典(愛知工業大学),津田 紀生(愛知工業大学),山田 諄(愛知工業大学)
著者名(英語): Hironori Takai(Aichi Institute of Technology),Norio Tsuda(Aichi Institute of Technology),Jun Yamada(Aichi Institute of Technology)
キーワード: 三次元計測|三角測量法|半導体レーザ
要約(日本語): レーザ光を測定物に照射しその散乱光をPSDで受光する事によって物体を三次元で計測する研究を行った。 レーザ光をポリゴンミラーと投光レンズを使って測定物の上から下へ平行に走査させていくと、それに伴い測定物表面で次々に散乱する。それらの散乱光は受光レンズにより二次元PSD上を時間を異にして次々に集光される。PSDからはそのまま2次元の断面が得られるので画像処理などの複雑な後処理を必要とせず測定速度は速くなる。そして、測定物を一定区間移動させ、同様の測定を繰り返し行う事により得られた二次元物体形状を一つにま
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 119 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
