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外部共振器型半導体レーザを用いたゼロダイン変調による光反射位置測定の検討

外部共振器型半導体レーザを用いたゼロダイン変調による光反射位置測定の検討

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-060

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Consideration of Optical Frequency Domain Reflectmetry by Serrodyne Modulation using External Cavity Tunable Diode Laser

著者名: 篠田 之孝(日本大学),梶 良高(日本大学),肥後 尚志(日本大学)

著者名(英語): Yukitaka Shinoda(Nihon University),Yoshitaka Kaji(Nihon University),Takashi Higo(Nihon University)

キーワード: セロダイン変調|光周波数領域反射測定法|外部共振器型半導体レーザ

要約(日本語): 筆者らはセロダイン変調とステップ型光周波数掃引を組み合わせた多チャンネル光反射位置計測システムを企図している。本文はセロダイン変調において変調量が2πからずれた場合について検討し、ビート周波数とセロダイン変調周波数のずれが生じた場合でも光反射の位置測定に影響を及ぼさないことを示した。また、外部共振器型半導体レーザを用いてサブミリメータの周期構造を持つ試料物体を測定した実験結果を示した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 51 Kバイト

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