商品情報にスキップ
1 1

正弦波光周波数変調による変位測定の基礎検討

正弦波光周波数変調による変位測定の基礎検討

通常価格 ¥440 JPY
通常価格 セール価格 ¥440 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-062

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Basic Consideration of Displacement Measurement by Sinusoidal Modulation of Optical Frequency

著者名: 篠田 之孝(日本大学),三富 啓智(日本大学),肥後 尚志(日本大学)

著者名(英語): Yukitaka Shinoda(Nihon University),Hirotoshi Mitomi(Nihon University),Takashi Higo(Nihon University)

キーワード: 正弦波光周波数変調|PGCホモダイン |変位測定

要約(日本語): 半導体レーザは光周波数を直接変調できるため、簡便な光学系で干渉計測に応用できる利点がある。筆者らはDSPによる実時間処理装置(ソフトウェア計測器)と光干渉装置を組み合わせた光計測を行っている。本文は、半導体レーザとPhase Generated Carrierホモダイン法を用いた変位測定システムの構築を企図して、光周波数の正弦波変調によるPGCホモダイン法を用いた変位測定の基礎的検討を行った報告である。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 55 Kバイト

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する