半導体レーザの自己結合効果を用いた距離計の精度の向上

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-063

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Improvement of Accuracy in Distance-Meter Using Self-Coupled Effect of Semiconductor Laser

著者名: 中尾 佑介(愛知工業大学),津田 紀生(愛知工業大学),山田 諄(愛知工業大学)

著者名(英語): Yusuke Nakao(Aichi Institute of Technology),Norio Tuda(Aichi Institute of Technology),Jun Yamada(Aichi Institute of Technology)

要約(日本語): 半導体レーザ固有の、外部反射面からの戻り光との自己結合効果による干渉を利用して距離測定を行ってきた。半導体レーザで発光、干渉、受光を兼ねているため外部干渉光学系が大幅に簡略でき、センサ部が半導体レーザとレンズのみで小型となる。しかし周囲の温度により発振波長が変化して測定値に誤差をもたらす。そこで半導体レーザの出力の一部をガラススプリッタによりマイケルソン干渉計に取り込み、そこから得られる基準周波数を用いて測定値の補正を行った。また小型化も含め干渉計を一体化した45×75mmの小型ボックスに納め、補正精度の

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 55 Kバイト