送電模擬装置による、Bi-YIG光CTの検証

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-066

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): An Optical Current Transformer with Bi-YIG Was Verified by Simulated Device of Transmission Lines

著者名: 林 宏充(九州大学),近藤 剛(九州大学),岩佐 宗八(九州大学),植田 清隆(九州大学),寺薗完一 (九州電力),竹下 博人(九州電力),樋口 貞雄(電力中央研究所)

著者名(英語): Hiromitsu Hayashi(Kyushu University),Tsuyoshi Kondo(Kyushu University),Souhachi Iwasa(Kyushu University),Kiyotaka Ueda(Kyushu University),Kanichi Terazono(Kyushu Electric Power Company),Hirohito Takeshita(Kyushu Electric Power Company),Sadao Higuchi(Central Research Institute of Electric Power Industry)

キーワード: 光CT|ファラデー効果|光計測システム|電力系統

要約(日本語): 　電力系統安定化制御において、故障発生時の保護方式の高信頼度化、故障除去後の電力系統の安定化が必要である。そこで光計測システムを開発し送電線の電圧と電流を測定するシステムを簡素化して、保護方式を高信頼度化する。今回は光リレー実現のためBi-YIGを用いた光CTの試作を行い、送電線模擬装置により様々な条件での故障試験を行った。定常電流、故障電流共にシャント抵抗で取り込んだ電流と比較をし、良好な結果を得た。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 52 Kバイト