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表面接触電極を用いた高電界誘電特性測定系の開発

表面接触電極を用いた高電界誘電特性測定系の開発

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-032

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Development of High-field Dielectric Measurement System with Surface Contact Electrodes

著者名: 所哲郎 (岐阜工業高等専門学校),進藤久典 (岐阜工業高等専門学校),小崎正光 (岐阜工業高等専門学校)

著者名(英語): テツロウ (Gifu National College of Technology),ヒサノリ (Gifu National College of Technology),マサミツ (Gifu National College of Technology)

キーワード: 誘電特性|tanδ|シリコーンゴム|がいし|交流損失電流|表面接触電極

要約(日本語): シリコーンゴムなどの高分子がいしの利用は、近年急速に拡大しつつある。高分子は磁器がいしと比べて、表面からの吸水や汚損などがその誘電・絶縁特性に大きく影響すると考えられる。本研究では、高分子材料の非破壊絶縁劣化診断を実施する上で、電極系を試料の片側表面にのみ設置し、その誘電特性を測定・評価する手法の確立を目指した。すなわち、試料を電極系で挟み込むことが不可能な場合にも、試料の厚さ方向の平均ではなく、表面からの深さ方向の感度を有する誘電計測手法の確立を目指した結果について報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 96 Kバイト

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