1
/
の
1
高温領域における高分子-高分子絶縁界面の部分放電劣化の検討
高温領域における高分子-高分子絶縁界面の部分放電劣化の検討
通常価格
¥440 JPY
通常価格
セール価格
¥440 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-043
グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集
発行日: 2000/03/21
タイトル(英語): Study on Partial Discharge Degradation at Insulating Polymer-Polymer Interface at High Temperature
著者名: 丸山敦 (名古屋大学),古森郁尊 (鳥羽高専),鈴置保雄 (名古屋大学),永田達也 (中部電力)
著者名(英語): アツシ (Nagoya University),フミタカ (Toba National College of Maritime Technology),ヤスオ (Nagoya University),タツヤ (Chubu Electric Power Co.Inc)
キーワード: 界面|部分放電|トリーイング劣化
要約(日本語): 近年、電力需要は大幅に増加しているが、その対策の1つとして電力ケーブルの限界性能(使用温度)引き上げが考えられている。そのため高温領域において、ケーブル本体および中間接続部の絶縁材料中での部分放電劣化特性を明らかにする必要がある。今回、その中で中間接続部(プレハブ式接続部)に存在するEPR-Epoxy界面について、高温領域(90℃)での部分放電劣化特性について検討を行った。その結果EPR側において、トリー伸展とともにトリー先端に空隙が形成されるのが観測された。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 148 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
