低密度ポリエチレンの絶縁破壊と高次構造の相関性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-052

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): The relationship between breakdown strength and morphology of low-density polyethylene

著者名: 石井 竜介(名古屋大学),趙敦讃 (名古屋大学),バンモンコンチャナロン (名古屋大学),森 竜雄(名古屋大学),水谷 照吉(名古屋大学),石岡 貢(日本ポリケム)

著者名(英語): Ryosuke Ishii(graduate school of engineering),Don Chan Cho (graduate school of engineering),Channarong Banmomgkol(graduate school of engineering),Tatsuo Mori(graduate school of engineering),Teruyoshi Mizutani(graduate school of engineering),Mitsugu Ishioka(Japan Polychem Co.)

キーワード: 低密度ポリエチレン|絶縁破壊|高次構造|X線回折|結晶サイズ|電子なだれ破壊

要約(日本語): 高圧法により作成された低密度ポリエチレンの絶縁破壊値と高次構造の関係を検討した。X線回折法により高次構造を検討した結果、3つの結晶面が確認された。それぞれの結晶面において結晶の大きさを検討したところ結晶(020)面の結晶サイズがもっとも大きいことがわかった。また結晶(020)面の結晶サイズとインパルス破壊値に相関関係が見られた。30℃において、結晶サイズが大きくなると破壊値は低下した。このことから、結晶サイズが大きくなることにより結晶部で電子が加速されやすくなると考えられ、破壊機構としては電子なだれ破壊が考えられる。また90℃においても同様の傾向が見られた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 61 Kバイト