高分子EL素子における光劣化機構の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-090

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): A study on the photo-degradation machanism of the polymer EL devices

著者名: 多田 和也(姫路工業大学),小野田 光宣(姫路工業大学)

著者名(英語): Kzuya Tada(Himeji Institute of Technology),Mitsuyoshi Onoda(Himeji Institute of Technology)

キーワード: 電界発光|導電性高分子|光劣化|ポリ(p-フェニレンビニレン)誘導体|ポリ(3-アルキルチオフェン)|発光素子

要約(日本語): 陰極に半透明アルミニウムを用いた高分子電界発光(EL)素子を用いて、光照射による素子の劣化機構を調べた。ポリ(p-フェニレンビニレン)誘導体を用いた素子では、光照射に伴い電界発光強度が減少すると共に高分子の光吸収の顕著な減少が見られた。一方、ポリ(3-アルキルチオフェン)を用いた素子では、電界発光が観測されないほど劣化した素子に於いても、高分子の光吸収の減少は極めて小さかった。このように、高分子の種類によって光劣化機構が大きく異なることが判った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 74 Kバイト