屋外用銀めっき接点部の突入電流通電試験-溶損におよぼす塩化銀皮膜の影響-

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-135

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Rush current test on silver plating contact for outdoor use -Effect of AgCl film on melting -

著者名: 水谷 守克(高岳製作所),大久保成憲 (高岳製作所),野村 卓史(高岳製作所),天野 雅人(高岳製作所)

著者名(英語): Morikatsu,Mizutani|Shigenori,Ohkubo|Takashi,Nomura|Masato,Amano

キーワード: 塩化銀|断路器|溶損

要約(日本語): 断路器は主として屋外で使用され、その銀めっき接点は、大気中の腐食性ガスと接触して種々の絶縁性皮膜を形成する。特に塩化銀皮膜は突入電流通電時に溶損を生じる可能性があり、３～６年に１度の点検を行っている。しかし、溶損の発生要因については不明な点が多い。そこで、実機より回収した接点部および塩化銀を促進させた接点部を用い、突入電流通電時の溶損に及ぼす塩化銀皮膜の影響について調査した。結果、皮膜が緻密で厚いほど接触抵抗・温度上昇値が増加することが認められ、約１００００μΩ以上で溶損が認められた。一般的に新品の接触抵抗が約１００μΩであることより、初期値の約１００倍になると溶損が生じやすいことが判明した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 129 Kバイト