高分子固体内部界面における電気絶縁特性評価用試料の開発-試料の短時間絶縁破壊特性-

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-144

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Development of Model Specimen for Evaluating Electrical Insulation Properties of Polymeric Solid-Solid Internal Interface-(breakdown of specimen)

著者名: 賈守国 (豊橋技術科学大学),鈴木 輝久(豊橋技術科学大学),長尾雅行 (豊橋技術科学大学),穂積直裕 (豊橋技術科学大学),村本裕二 (豊橋技術科学大学),田中祀捷 (電力中央研究所)

著者名(英語): Shoukoku Ka(Toyohashi University of Technology),Teruhisa Suzuki(Toyohashi University of Technology),B.C.P./Frenando (Toyohashi University of Technology),Masayuki Nagao(Toyohashi University of Technology),Naohiro Hozumi(Toyohashi University of Technology),Yuji Muramoto(Toyohashi University of Technology)

キーワード: 破壊|固体内部界面|電気絶縁

要約(日本語): 現在CIGRE（国際大電力システム会議）ではWG15-10において固体内部界面における電気絶縁特性を評価するための材料試験法の開発を進めている。本報告ではＣＶケーブルのプレハブ接続部を模擬した固体内部界面絶縁特性を評価するための材料試験法を確立することを目的として、評価用試料の開発研究を進めてきた。今回は、評価用試料の破壊電圧の測定をしたので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 110 Kバイト