繰返し温度走査法による耐熱性評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-145

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Thermal Endurance Evaluation by Repeated Temperature Scanning

著者名: 菱木昭生 (千葉工業大学),小澤 丈夫(千葉工業大学)

著者名(英語): Hishiki/Akio (Chiba Institute of Technology ),Takeo Ozawa(Chiba Institute of Technology )

キーワード: 熱重量測定|速度論解析|活性化ｴﾈﾙｷﾞｰ|ポリイミド|ポリブチレンテレフタレート|ポリメタクリ酸メチル

要約(日本語): 一定温度範囲を加熱･冷却を繰り返して質量変化率と質量変化速度とを測定する。一定温度における両者の関係を求めれば、定温測定の結果と等価な結果が得られる。異なる数点の温度で同様なﾃﾞｰﾀ処理を行えば、一回の繰返し温度走査によって、数点の温度において定温測定を行ったのと等価な結果を得ることができる。この結果から、活性化ｴﾈﾙｷﾞｰ、頻度因子や反応機構を求めることができる。したがって、この方法は極めて効率が良く、長時間を要する低い温度での速度論解析に適している。また、測定温度範囲を限定して測定を行える点も特徴である。このため、高分子絶縁材料の耐熱性評価により適した方法と言えよう。この方法を、ポリイミド、ポリブチレンテレフタレートとポリメタクリル酸メチルに適用した結果を述べる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 138 Kバイト