単板磁気試験法における空隙磁束補償法の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-169

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): Investigation on Method of Air-Flux Compensation for Single Sheet Tester

著者名: 鈴木 慎吾(岡山大学),中野 正典(岡山大学),藤原 耕二(岡山大学),高橋 則雄(岡山大学)

著者名(英語): Shingo Suzuki(Okayama University),Masanori Nakano(Okayama University),Koji Fujiwara(Okayama University),Norio Takahashi(Okayama University)

キーワード: 単板磁気試験器|空隙磁束補償|相互誘導コイル|Ｂコイル

要約(日本語): 最近における電気機器の小型化・軽量化の傾向は著しく，飽和に近い高磁束密度領域における磁気特性を考慮した設計が必要になってきた．このような高磁束密度領域における磁気特性を，単板磁気試験器を用いて測定する場合には，空隙磁束を補償する必要がある．そこで，試料との空隙が少ないＢコイルを考案するとともに，可変型の相互誘導コイルと併用することにより，高精度の空隙磁束補償法を開発したので報告する．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 63 Kバイト