磁性薄膜の透磁率補正法と測定限界

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-192

グループ名: 【全国大会】平成12年電気学会全国大会論文集

発行日: 2000/03/21

タイトル(英語): A correction and sensitivity of permeability measurement for magnetic thin-films

著者名: 卯尾 豊明(東北大学電気通信研究所),薮上 信(東北大学電気通信研究所),山口 正洋(東北大学電気通信研究所),荒井賢 一(東北大学電気通信研究所),宮澤 安範(凌和電子),渡辺 光春(凌和電子),板垣 篤(凌和電子),安藤 仁司(凌和電子),竹澤 昌晃(九州工業大学),山崎二郎 (九州工業大学)

著者名(英語): Toyoaki Uo(Research Institute of Electrical Communication,Tohoku University),Shin Yabukami(Research Institute of Electrical Communication,Tohoku University),Masahiro Yamaguchi(Research Institute of Electrical Communication,Tohoku University),Ken ichi Arai (Research Institute of Electrical Communication,Tohoku University),Yasunori Miyazawa(Ryowa Electronics Co.,Ltd,),Mituharu Watanabe(Ryowa Electronics Co.,Ltd,),Atushi Itagaki(Ryowa Electronics Co.,Ltd,),Hitoshi Ando(Ryowa Electronics Co.,Ltd,),Masaaki Takezawa(Kyushu),Jiro Yamasaki(Kyushu)

キーワード: 磁性薄膜|透磁率計測|透磁率絶対値補正

要約(日本語): 合金磁性薄膜の透磁率計測では、誘電体基板や試料の電極としての影響を除き磁気信号分を得るため、強い直流磁界により試料を飽和させるバックグラウンド測定が必要である。本稿では大きな異方性磁界を有する試料や反磁界の大きな試料を想定し、バックグラウンド測定時において絶対値補正方法を定式化し、より正確な透磁率の評価が可能になったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 126 Kバイト