個体群探索分岐型遺伝的アルゴリズムを用いたクラック同定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-015

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Non-Detective Testing using Forking GA

著者名: 小野木 巧(関西大学),武本 秀行(関西大学),牧野 寧(関西大学),原 武久(関西大学)

著者名(英語): Takumi Onogi(Kansai University),Hideyuki Takemoto(Kansai University),Yasushi Makino(Kansai University),Takehisa Hara(Kansai University)

キーワード: 遺伝的アルゴリズム(GA)| |有限要素法|非破壊検査

要約(日本語): 構造物中に存在するクラックを非破壊的に検査するために非破壊検査が必要となり,クラックを探索するアルゴリズムの一つとして遺伝的アルゴリズム(以降GA)が検討されている。GAは大域的な探索に優れ局所解に陥りにくいという特徴を持つ反面,局所的な探索に時間を要する。欠陥の長さや位置などを詳細に検査するにはクラックのとりうる形状を多くする必要があり,それによって局所解の数も多くなると考えられ,その結果としてGAの解析時間が長くなる。そこでクラック同定までの解析時間を短縮するため局所解が探索空間中に多数存在する多峰問

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 124 Kバイト