ダブルプラズマ装置を用いたイオンビームと負帯電微粒子の相互作用の研究

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-223

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Study of Interactions between Ion Beam and Dust Particles in a Double-Plasma Device

著者名: 村上 武造(名古屋大学),三沢 達也(名古屋大学),浅野 和仁(名古屋大学),澤井 美樹(名古屋大学),大野哲靖 (名古屋大学),高村 秀一(名古屋大学)

著者名(英語): Takezo Murakami(Nagoya University),Tatsuya Misawa(Nagoya University),Kazuhito Asano(Nagoya University),Miki Sawai(Nagoya University),Noriyasu Ohno(Nagoya University),Syuiti Takamura(Nagoya University)

キーワード: 微粒子プラズマ|イオンビーム|イオン摩擦力

要約(日本語): プラズマ中の微粒子とイオン流の相互作用の解明のため、低ガス圧下で生成したプラズマ中に浮遊する微粒子群にイオンビームを入射し、微粒子の挙動を観測する。微粒子はダブルプラズマ装置のセパレーショングリッドの上面に形成されたイオンシース中の電場によって捕捉し、鉛直下方向から微粒子にイオンビームを打ち込む。微粒子にはたらく重力、静電気力とイオン摩擦力のバランスによって得られる微粒子の浮遊位置の変化の解析、解析結果と実験結果との比較検討を行い、イオン摩擦力の大きさを明らかにする。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 108 Kバイト